FUJIFILM干渉計

fuji01.jpgFUJIFILM干渉計は、サンプルの材質によらず、鏡面であればほとんど非接触観測が可能です。

また、干渉縞を自動的に解析し数値化する島解析装置も揃えており、使いやすさを追求した高機能・高性能計測システムとなっております。

高精度平面板(ガラス、金属、セラミック等)の平面度測定、CD・DVD等の対物レンズの透過波面測定、レンズの球面精度、ニュートン縞検査、ミラー、ガラスディスク、ウェーハ等の面精度測定等、様々な用途に対応する干渉計をご用意しておりますので、測定される対象物に、より適した干渉計をお選び下さい。

 

平面測定システム

 

  • 平面ガラスの表面形状測定
    オプティカルフラット、ガラスディスク、半導体マスク基盤、ペリクル、各種フィルター、液晶用ガラス、PDP用ガラス等
  • 金属、結晶等の表面形状計測
    アルミディスク、セラミックディスク、シリコンウェーハ等
  • 透明物体の透過波面測定
    フィルムの透過波面測定、板ガラスの透過波面測定等

 

球面測定システム

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  • 各種レンズの表面形状計測
    カメラ用レンズ、コピー機用レンズ、センサー用レンズ、ボールレンズ、コンタクトレンズ、GRINレンズ等
  • 金属等の表面形状測定
    レンズ金型、ベアリング、鋼球等

F601球面測定
F601FCⅡ

 

縞解析装置

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  • 干渉計で得られた干渉縞を解析し、表面形状や透過波面形状を数値化、ビジュアル化します。

A1縞解析装置

 


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